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author: Geum-Yong Park
1 Articles are founded.
Mechanical Reliability of Cu Electrode for Flexible Electronics under Asymmetric Bending Deformations
유연 전자 소자용 구리 배선의 비대칭 반복 굽힘에 따른 기계적 신뢰성 연구
유연 전자 소자용 구리 배선의 비대칭 반복 굽힘에 따른 기계적 신뢰성 연구
Dong-Chul Shin 
, Geum-Yong Park , Myeong-Soo Go , Byoung-Joon Kim
, Geum-Yong Park , Myeong-Soo Go , Byoung-Joon Kim
J. Flex. Print. Electron. 2024;3(2):241-247.
https://doi.org/10.56767/jfpe.2024.3.2.241
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https://doi.org/10.56767/jfpe.2024.3.2.241
